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热电材料

 发表时间:2019-09-08 15:41:30

使用Hot Disk技术可以很容易地测试小型热电样品。在这个例子中测试了两组热压Bi₂Te₃, p和n型样品,直径12毫米和3.5毫米厚度。

样品信息

两组热压Bi₂Te₃, p和n型样品,直径12毫米和3.5毫米厚度

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方法

基本模块,室温测试。使用7577型号Kapton探头来匹配样本大小。探头半径2mm能允许径向探测深度4mm,轴向探测深度3.5 mm,因此厚度限制了可用探测深度。样品表面经过轻砂处理,以确保光滑的界面和良好的热接触。探头被放置在样品两块样品中心,并牢牢夹住。


测试

对每个样品组进行一次初始测试,测试时间为4秒,加热功率为50 mW。该加热功率被证实可使p型和n型样品的最终温度升高接近3 K。对于n型试样,测量时间缩短为3秒,使探测深度保持在试样边界内。


准确试验按下表进行,反复试验间隔15分钟:

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最终结果

最终结果经过计算后(选点40-180),如下表所示:

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n型Bi₂Te₃显示了比p型样品更高的导热系数,。p型样品的体积比热是略低于理论(1.187 MJ / m³K) ,而n型标品更低。这可能是由于n型样品的密度较低或各向异性较大所致。